5月5日消息，自动测试设备供应商泰瑞达宣布，分别与合肥工业大学和福州大学建立了集成电路自动测试大学项目，基于Magnum V和测试机J750系列建立的课程体系已正式开课。泰瑞达计划将联合中国的更多高校开设相关课程，加大力度支持中国培养自己的半导体测试人才，为中国半导体行业的快速、健康的发展贡献更多的推动力。
集成电路自动测试处于集成电路产业链的下游，自动测试设备（ATE）提供的测试环节贯穿了整个集成电路的产业链，是提高集成电路良品率的关键工序。科技的日新月异要求芯片功能越来越强大，而随之带来的是集成电路的复杂程度呈指数级的快速增长，这是芯片测试领域所面临的极大挑战。
泰瑞达（Teradyne）作为自动测试行业的领先者，在芯片测试领域拥有超过60年的专业经验。泰瑞达凭借着不断的创新保持着行业的领导地位，一直与时俱进为半导体行业保驾护航，将质量、安全和可持续性纳入各个业务环节。其半导体测试产品组合正在转变芯片组的测试方式，领域涉及汽车、工业、通信、消费者、智能手机、计算机和电子游戏应用等，改变人们的工作、生活和娱乐方式。泰瑞达相信高质量的人才储备是创新最重要的动力，此次与中国大学共同合作不仅落实产、学、研合作正是泰瑞达对人才重视程度的体现。
泰瑞达从进入中国伊始即承诺支持中国半导体行业的长期发展，与中国高校分享知识，助力中国培养集成电路测试人才。泰瑞达基于盛行的内存型Magnum V和测试系统J750系列建立大学集成电路自动测试课程体系，通过将实践课程和行业领先技术带入大学，让学生在大学期间既可获得实践经验，为中国的半导体行业培养高素质且有实践经验的未来生力军。目前，合肥工业大学已采用内存型Magnum V和SoC J750的课程，福州大学也采用了SoC J750课程。
Magnum V测试机平台是一个基于待测芯片的多工位架构，可针对超高性能快闪存储器及DRAM存储器提供高产能以及出色的并行测试。测试工程师只需为单个芯片编写测试程序，系统自动将测试程序复制到多处，从而实现并行测试效率最大化。所有软件工具都具有多工位识别能力，使测试工程师可以在任何待测芯片中对芯片性能进行排查。Magnum V测试机平台提供灵活和可扩展的硬件配置、开放架构的软件开发环境，是专业人员从研发设计到规模量产的可信赖首选。
J750系列半导体测试机台使用IG-XL&trade；软件平台进行操作，是测试质量的行业标准，是世界领先的汽车和消费应用类MCU产品公认的解决方案，也是图像传感器测试的全球领导者。零占用空间能够最大程度地利用测试场地来增加容量，而更高的多站点吞吐量可以降低测试成本，J750测试系统的可扩展性使其成为指纹传感器、MEMS和带有MCU无线功能的物联网产品的理想选择。
未来，泰瑞达将依托此次合作的经验，与中国的大学开展更多的课程，为中国半导体行业的产、学、研、用提供全方位的支持，助力中国半导体行业的长期发展，满足发展集成电路产业的战略需求。
